2016.08 - 2017.02 | 삼성전자
- “딥러닝 기반의 이상 Wafer 인식기 개발” 을 목적으로 함
- 엔지니어들의 다양한 사전 지식(domain knowledge)를 통합적으로 반영하고 모사하고자 함
- 최근 머신러닝 분야에서 월등한 이미지 처리 성능을 보여주는 딥러닝 구조인 Convolutional Neural Network(CNN)을 사용하여 분류 정확도를 향상시키고자 함
- 삼성전자에서 제공한 EDS Wafer BIN Map 결과와 엔지니어들에 의해 사전 정의된 정상/불량 정보
- BIN map을 통해 정상/불량을 판별 가능한 Convolutional Neural Network(CNN) 구조 설계 및 BIN Color schema framework 제시
Data Science & Business Analytics Lab.
Department of Industrial Engineering, College of Engineering,
Seoul National University
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- 강필성 교수 (pilsung_kang@snu.ac.kr)
서울특별시 관악구 관악로 1 서울대학교 공과대학 39동 301호 - 대학원 연구실 (총무 허재혁 : jaehyuk.heo@snu.ac.kr)
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